復合絕緣子由于其優秀的防污閃特性被越來越多地應用于電力系統中，良好的生產質量是復合絕緣子能夠長期安全運行的首要條件，在制造過程中，不允許在復合絕緣子中含有內部缺陷，例如裂隙、脫粘等。一旦復合絕緣子含有內部缺陷，將很容易出現老化過程，例如局部放電、護套閃絡等。
目前，關于內部缺陷對老化過程的影響尚沒有一個清晰全面的認識，為了優化復合絕緣子的生產工藝，提高其出廠質量，需要針對含內部缺陷的復合絕緣子的老化過程進行更多的研究。本文主要對含缺陷的復合絕緣子進行人工加速基金項目：國家自然科學基金資助項目(51150110477)老化試驗，試驗結果有助于我們理解含交界面缺陷復合絕緣子的老化過程。所采用的試驗方法也推薦成為鑒定復合絕緣子交界面質量的補充手段。
一、試驗樣品
進行加速老化實驗的短絕緣子在芯棒與護套交界面上含有不同類型的人造缺陷，缺陷尺寸見圖1。人造缺陷主要包括以下類型：
(1)導通缺陷(銅片，厚0.2 m m，寬20 m m，長40-60 I nm)。
(2)半導通缺陷(木片，厚1 m m，寬20 m m，長40～60 m m)。
(3)部分區域粘結性喪失60 m i nx20 m m(長×寬)。
(4)無缺陷(對照組)。加速老化試驗所用的電極與水煮試驗類似，電極結構見圖2。
二、試驗方法
將短絕緣子樣品加裝電極進行加速老化試驗，接地電極與1個高采樣率的泄露電流采集裝置相連，以監控加壓過程中的泄露電流波形與局部放電脈沖波形。整個加壓裝置安裝在霧室中，室內的溫度與相對濕度均可控在試驗開始前，采用下列方法之一對含人造缺陷絕緣子樣品進行預處理：
1)使用真空干燥箱在50℃下進行干燥；
2)不同時長的水煮試驗；
3)在50℃下對水煮后的樣品重新進行干燥。不同的預處理過程可以更好地幫助我們理解水分侵入對于復合絕緣子老化機理以及泄露電流的影響。為了比較含不同缺陷的復合絕緣子的泄露電流特征，對其施加逐步升高的試驗電壓，初始試驗電壓3kV，每次升壓2kV，至33kV為止。每次升壓后，維持電壓不變持續至少1min。如果泄露電流仍隨時間變化，則繼續保持電壓，直至泄露電流穩定或者有閃絡發生。在試驗過程中．使用紅外相機(FLIR T330)觀測樣品的溫度分布情況。http://www.ledshenzhen.com.cn
